端子線壓接端子工藝在電氣連接系統可靠性研究中，壓接高度偏差是導致端子失效的主要誘因之一。本報告基于IPC/WHMA-A-620E標準，通過實驗數據揭示端子線壓接端子出現壓接過高與過低對連接器性能的差異化影響。

一、端子線壓接端子壓接過高的危害性分析

1. 機械性能劣化

抗拉強度下降30-50%（相比標準壓接）

振動環境下脫落風險增加5倍（MIL-STD-1344測試）

2. 電氣特性變化

參數標準值壓接過高影響接觸電阻≤5mΩ上升至8-12mΩ電流承載能力100%降低20-30%

二、端子線壓接端子壓接過低的失效模式

1. 結構損傷風險

銅絲斷裂概率提升（金相觀測顯示30%截面損傷）

端子變形量超出彈性極限（永久變形＞15%）

2. 環境適應性下降

鹽霧試驗壽命縮短至標準值的1/3（96h測試）

熱循環后接觸壓力衰減40%（-40~125℃循環）

三、端子線壓接端子高度的臨界控制參數

1. 壓接高度公差帶：

銅導體：標稱值±0.05mm

鋁導體：標稱值±0.08mm

2. 過程監控方法：

在線激光測高儀（分辨率0.01mm）

破壞性抽檢（每500次壓接）

四、端子線壓接端子過高或過低的糾正預防措施

1. 模具磨損補償系統（自動調節±0.03mm）

2. 多工序防錯驗證（壓力-高度雙參數閉環控制）

本報告特別指出，壓接高度偏差導致的微動磨損是后期接觸失效的主因，建議采用截面分析結合紅外熱成像進行預防性檢測。對于航空航天等特殊領域，應執行NASA-STD-8739.4規定的破壞性物理分析（DPA）。